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Palladium XP Ⅱ验证平台使得验证效率提高两倍
Palladium XP Ⅱ验证平台使得验证效率提高两倍
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摘要：
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System Verilog
VMM
可重用
验证平台
内容分析
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文献信息
| 篇名 | Palladium XP Ⅱ验证平台使得验证效率提高两倍 | ||
| 来源期刊 | EDN CHINA 电子技术设计 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | Palladium 验证平台 Cadence公司 CadenCe 计算平台 上市时间 系统 套件 | ||
| 年，卷（期） | echinadzjssj_2013,（11） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 12-12,14 | |
| 页数 | 2页 | 分类号 | TN402 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | |||
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