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3.0μm工艺模型建立方法研究
3.0μm工艺模型建立方法研究
作者:
寇春梅
朱宏
陈培仓
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
模型
测试
MOSFET
SPICE
摘要:
器件模型作为Foundry跟设计公司接口的最基本桥梁,需要熟悉器件、工艺、物理、EDA等多方面的专业要求[1],设计公司依据一个高精度的器件模型,针对确定的器件和工艺进行设计,可以保证设计电路产品的成品率和可靠性,提高工艺容宽,降低成本。随着加工工艺的不断进步,工艺建模更是必不可少。现在模型参数提取已经进入了45 nm时代,工艺模型则需要专业的建模公司来完成,因为这不仅需要专业的模型提取软件,亦需要昂贵的品类繁多的测试设备,当然更需要专业的建模技术人员。建立完整可靠和统一高效的SPICE模型是将先进的工艺制程迅速推向客户的关键。
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文献信息
篇名
3.0μm工艺模型建立方法研究
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
模型
测试
MOSFET
SPICE
年,卷(期)
2013,(11)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
36-39,48
页数
5页
分类号
TN305
字数
1196字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
陈培仓
3
1
1.0
1.0
2
寇春梅
5
4
1.0
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3
朱宏
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传播情况
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2013(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
模型
测试
MOSFET
SPICE
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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