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摘要:
器件模型作为Foundry跟设计公司接口的最基本桥梁,需要熟悉器件、工艺、物理、EDA等多方面的专业要求[1],设计公司依据一个高精度的器件模型,针对确定的器件和工艺进行设计,可以保证设计电路产品的成品率和可靠性,提高工艺容宽,降低成本。随着加工工艺的不断进步,工艺建模更是必不可少。现在模型参数提取已经进入了45 nm时代,工艺模型则需要专业的建模公司来完成,因为这不仅需要专业的模型提取软件,亦需要昂贵的品类繁多的测试设备,当然更需要专业的建模技术人员。建立完整可靠和统一高效的SPICE模型是将先进的工艺制程迅速推向客户的关键。
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文献信息
篇名 3.0μm工艺模型建立方法研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 模型 测试 MOSFET SPICE
年,卷(期) 2013,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 36-39,48
页数 5页 分类号 TN305
字数 1196字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈培仓 3 1 1.0 1.0
2 寇春梅 5 4 1.0 2.0
3 朱宏 4 37 3.0 4.0
传播情况
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引文网络
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2013(0)
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研究主题发展历程
节点文献
模型
测试
MOSFET
SPICE
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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