无铅元器件对高可靠系统的影响及其应对标准

• 作者: 张秋 朱茗
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 关键词: 无铅 元器件 高可靠应用 标准
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 所属期刊栏目: ZigBee技术与标准专题
• 页码范围: 39-43
• 页数: 5页
• 字数: 4541字
• 语种: 中文

摘要

分析了无铅元器件对高可靠系统的危害,以及引入高可靠系统所造来的技术和管理问题,重点介绍了工业界和政府电子与信息技术协会、固态技术协会等制定的应对无铅元器件引入高可靠性系统相关的标准.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张秋		10	18	2.0	4.0
2	朱茗		8	1	1.0	1.0