柔性薄卡元器件层关键参数的测试方法

• 作者: 冯园园 毛向荣 陈晓童
• 来源期刊: 上海计量测试
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 技术交流 Technical Exchange
• 页码范围: 54-55
• 页数: 2页
• 字数: 1575字
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯园园		5	4	1.0	2.0
2	毛向荣		2	1	1.0	1.0
3	陈晓童		3	1	1.0	1.0