基于时间序列DTW差异的IGBT模块缺陷辨识方法

• 作者: 周生奇 周雒维 孙鹏菊
• 来源期刊: 重庆大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷 绝缘栅双极型晶体管 动态时间弯曲 时间序列
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 页码范围: 89-95
• 分类号: TM772
• 语种: 中文
• DOI: 10.11835/j.issn.1000-582X.2013.09.014

摘要

绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块是电力电子装置中关键可靠性敏感元件之一,辨识IGBT模块缺陷,是避免突发故障,增强电力电子装置可靠运行的重要举措之一.为此,笔者提出一种基于时间序列动态时间弯曲(DTW)差异的IGBT模块早期缺陷的诊断方法.该方法利用缺陷对IGBT模块门板寄生参数的影响,通过分析缺陷前后,门极电压信号序列DTW的差异,判断IGBT模块内部是否存在缺陷.实验研究结果验证了其诊断结论的正确性和实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周雒维	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	166	2243	26.0	40.0
2	孙鹏菊	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	37	300	11.0	16.0
3	周生奇	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	7	38	4.0	6.0