Wiener过程性能退化电子产品的剩余寿命预测方法

• 作者: 姜媛媛 王书锋 王友仁
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 剩余寿命预测 Wiener过程 自助法 贝叶斯方法 电子产品
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 17-20,41
• 页数: 5页
• 分类号: TP202+.1
• 字数: 3106字
• 语种: 中文

摘要

针对Wiener过程性能退化电子产品剩余寿命预测中存在先验信息获取困难、预测不能有效体现个体差异性的问题,研究一种基于自助法的电子产品剩余寿命预测方法.首先,基于Wiener过程建立性能退化模型;其次,利用自助法获取先验数据,并以此数据确定退化模型参数的先验分布;最后,由贝叶斯方法融合退化数据确定退化模型参数的后验估计,进而由剩余寿命分布确定产品的剩余寿命.该方法能够得到具有个体差异性的预测结果,适合于单个电子产品的在线剩余寿命预测,并通过对GaAs激光器的实例分析验证了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王友仁	南京航空航天大学自动化学院测试系	190	2254	25.0	36.0
2	姜媛媛	南京航空航天大学自动化学院测试系	20	177	7.0	13.0
3	王书锋	南京航空航天大学自动化学院测试系	1	12	1.0	1.0