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摘要:
通过交变电场下的紫外光响应测试,观察到ZnO基薄膜在254nm紫外光激发下的慢响应现象,并测量了响应时间常数。为提高 ZnO 基薄膜紫外探测器的性能,采用磁控溅射法,制备了纯ZnO薄膜和掺Al浓度为10 at.%(原子比例)的ZnO薄膜紫外探测器,测量了样品的频率特性曲线。结果表明,Al掺杂能有效地抑制 ZnO薄膜的慢响应,实现探测器对紫外光的响应时间常数τ<25μs的快速响应。
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文献信息
篇名 Al掺杂ZnO紫外探测器的快速响应技术
来源期刊 太赫兹科学与电子信息学报 学科 工学
关键词 ZnO薄膜 Al掺杂 紫外探测器
年,卷(期) 2014,(5) 所属期刊栏目 电磁场与微波
研究方向 页码范围 771-774
页数 4页 分类号 TN23
字数 2378字 语种 中文
DOI 10.11805/TKYDA201405.0771
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邓宏 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 72 653 14.0 22.0
2 邓意峰 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 2 5 2.0 2.0
3 刘浩 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 6 20 3.0 4.0
4 贾卓 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 3 11 2.0 3.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
ZnO薄膜
Al掺杂
紫外探测器
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
太赫兹科学与电子信息学报
双月刊
2095-4980
51-1746/TN
大16开
四川绵阳919信箱532分箱
62-241
2003
chi
出版文献量(篇)
3051
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7
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11167
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