基于Halcon的硒鼓缺陷检测与一维尺寸测量

• 作者: 朱先锋 潘洪军
• 来源期刊: 吉林大学学报（信息科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 形态学算子 缺陷检测 亚像素测量
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与技术
• 页码范围: 308-315
• 页数: 8页
• 分类号: TP391
• 字数: 3654字
• 语种: 中文

摘要

为实现硒鼓表面缺陷检测和尺寸测量的自动化，运用图像处理算法中的数学形态学算子对硒鼓表面点缺陷和线缺陷进行精确检测与分类，并根据亚像素测量方法对硒鼓尺寸进行精确测量，通过机器视觉专用软件Halcon和。 NET开发了硒鼓缺陷自动检测与尺寸测量系统。测试结果表明，该方法与应用像素级测量法相比，其精度提高1~2个像素，具有精度高、稳定性强等优点。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘洪军	浙江海洋学院数理与信息学院	35	90	4.0	7.0
2	朱先锋	浙江海洋学院数理与信息学院	2	19	1.0	2.0