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摘要:
随着VLSI芯片复杂度不断增加,功能验证与调试已占到整个芯片设计周期的60%以上。而错误的定位往往消耗大量的时间与精力,因此迫切需要一种高效的方法诊断与定位电路中的错误。针对近年来出现的许多电路错误定位方法,介绍了电路错误诊断方法的分类与工作流程,深入分析了基于SAT的错误定位方法的基本原理;对各种算法进行了概述评论,并简要介绍了在不可满足子式求解方面所做的一些研究工作,而不可满足子式能够显著提高错误定位效率与精度;讨论了电路错误定位技术所面临的主要挑战,并对今后的研究方向进行了展望。
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文献信息
篇名 基于SAT的电路错误定位方法研究进展
来源期刊 国防科技大学学报 学科 工学
关键词 形式化验证 错误定位 布尔可满足性 可满足性模
年,卷(期) 2014,(2) 所属期刊栏目 计算机科学与技术?信息与通信工程
研究方向 页码范围 81-86
页数 6页 分类号 TP391
字数 6487字 语种 中文
DOI 10.11887/j.cn.201402014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李思昆 国防科技大学计算机学院 100 974 16.0 27.0
2 张建民 国防科技大学计算机学院 11 15 2.0 3.0
3 黎铁军 国防科技大学计算机学院 13 39 4.0 6.0
4 张峻 国防科技大学计算机学院 6 13 2.0 3.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
形式化验证
错误定位
布尔可满足性
可满足性模
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国防科技大学学报
双月刊
1001-2486
43-1067/T
大16开
湖南省长沙市开福区德雅路109号
42-98
1956
chi
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31889
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