基于斜率特征的模拟电路故障诊断新方法

• 作者: 杨成林 王厚军 韩涵
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路 故障诊断 可测性 斜率特征
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 数据采集与处理
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 分类号: TP181|TM930
• 字数: 2658字
• 语种: 中文

摘要

针对低可测性模拟电路存在的模糊组问题,提出一种模拟电路故障诊断新方法.利用不同元件在电路可及节点间的斜率特征关系建立斜率测试矩阵,依据斜率测试矩阵准确找到电路中存在的模糊组和独立可测元件,从而确定可诊断集,然后利用支持向量机对故障进行诊断.斜率法优点在于不需要对电路拓扑结构进行分析,计算简便,支持向量机结构简单,泛化能力强.实验表明该方法具有良好的模拟电路故障诊断效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王厚军	电子科技大学自动化工程学院	257	2532	27.0	36.0
2	杨成林	电子科技大学自动化工程学院	9	55	4.0	7.0
3	韩涵	电子科技大学自动化工程学院	2	36	2.0	2.0