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摘要:
本文详细介绍了软件安全认证中微电子故障校验原理,并举例说明微电子故障校验的方法,提升家用电器安全性能。
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文献信息
篇名 浅谈微电子故障校验
来源期刊 创新科技 学科 工学
关键词 软件安全认证 IEC60730 微电子故障 微控制器MCU
年,卷(期) 2014,(14) 所属期刊栏目 技术创新
研究方向 页码范围 82-82
页数 1页 分类号 TN407
字数 1645字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 洪伟鸿 4 3 1.0 1.0
2 邓天军 15 5 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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2014(0)
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研究主题发展历程
节点文献
软件安全认证
IEC60730
微电子故障
微控制器MCU
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
创新科技
月刊
1671-0037
41-1319/N
大16开
河南省郑州市政六街3号
36-221
2002
chi
出版文献量(篇)
7947
总下载数(次)
17
总被引数(次)
6811
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