原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
基于ANSYS平台,利用VC语言开发了一个专门针对微电子金属封装温度场的仿真系统.可以对不同情况下的微电子金属封装进行温度场仿真,并查看仿真结果.用VC语言编程,用户只需输入必要的前处理参数,就可以得出ANSYS的封装仿真结果,从而使不了解ANSYS的用户也可利用其强大的功能进行计算和分析.
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文献信息
篇名 微电子金属封装温度场仿真系统的研究
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 微电子封装 温度场 仿真
年,卷(期) 2005,(3) 所属期刊栏目 计算机科学与技术
研究方向 页码范围 33-36
页数 4页 分类号 TP391.9|TN305.94
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.03.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐骏宇 4 29 3.0 4.0
2 许纪倩 北京科技大学机械学院 17 191 7.0 13.0
3 陈娟 北京科技大学机械学院 6 41 3.0 6.0
4 谭艳辉 北京科技大学机械学院 3 13 2.0 3.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
微电子封装
温度场
仿真
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
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总被引数(次)
9369
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