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摘要:
SiC单晶片是第三代宽禁带半导体材料,其特有的晶体结构及高的材料硬度使其加工过程成为难点,突出表现为加工效率低、表面质量不稳定等问题,因此SiC单晶片的高效低损伤加工技术成为研究的焦点.介绍了SiC单晶材料去除机理,总结了高效精密加工SiC单晶的工艺现状及发展趋势,这对于提高SiC单晶片加工技术和应用水平有重要的理论意义和实用价值.
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宽禁带半导体
发光
发光调控
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 SiC单晶材料加工工艺研究进展
来源期刊 材料导报 学科 工学
关键词 SiC单晶 精密磨削 化学机械抛光 表面质量
年,卷(期) 2014,(1) 所属期刊栏目 材料综述
研究方向 页码范围 6-10
页数 5页 分类号 TB321|TG580.68
字数 3400字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 肖强 西安工业大学机电工程学院 23 175 7.0 12.0
2 何雪莉 6 29 4.0 5.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
SiC单晶
精密磨削
化学机械抛光
表面质量
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
材料导报
半月刊
1005-023X
50-1078/TB
大16开
重庆市渝北区洪湖西路18号
78-93
1987
chi
出版文献量(篇)
16557
总下载数(次)
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