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摘要:
介绍了一种基于NiosⅡ的NAND Flash控制器,对三星公司的K9WAG08U1A型NAND Flash芯片的坏块的查询方法进行了讨论.提出了一种基于FPGA的坏块处理方法,并对硬件系统进行了比较详细的介绍.论文系统采用Altera公司的FPGA(现场可编程门阵列)进行开发,通过USB进行数据的传输,通过NiosⅡ对系统进行整体调度,实现了屏蔽对坏块的操作,实现对Flash的可靠存储.
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文献信息
篇名 基于NiosⅡ的NAND Flash控制器设计
来源期刊 计算机与数字工程 学科 工学
关键词 NiosⅡ FPGA Flash 坏块
年,卷(期) 2014,(8) 所属期刊栏目 工程实践
研究方向 页码范围 1498-1501
页数 4页 分类号 TP274+.2
字数 1537字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn1672-9722.2014.08.045
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 高天德 32 195 8.0 12.0
2 乔天熊 5 2 1.0 1.0
3 史伊朝 2 2 1.0 1.0
4 刘培洲 8 7 1.0 2.0
传播情况
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2020(1)
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研究主题发展历程
节点文献
NiosⅡ
FPGA
Flash
坏块
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机与数字工程
月刊
1672-9722
42-1372/TP
大16开
武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号
1973
chi
出版文献量(篇)
9945
总下载数(次)
28
总被引数(次)
47579
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