非标器件S参数去嵌入测试方法研究

• 作者: 易磊 李新伟
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 非标器件 S参数 T参数 去嵌入 TRL校准
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 计测技术
• 页码范围: 30-32,34
• 页数: 4页
• 分类号: TB9
• 字数: 3133字
• 语种: 中文

摘要

非标器件的S参数测试,需要重点考虑夹具效应对测试结果带来的影响.本文介绍了一种通过去嵌入的方式测试非标微波器件S参数的测试方法,通过与传统测试方法得到测试结果的比对,以及对该测试方法进行的不确定度分析,表明了该方法测试结果的准确度较高,且相比传统的测试方法,这种去嵌入化的测试方案对于测试夹具的加工精度要求不高,更具实用性,可应用于非标器件S参数测试中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李新伟	中航工业空空导弹研究院计量测试中心	2	5	2.0	2.0
2	易磊	中航工业空空导弹研究院计量测试中心	1	3	1.0	1.0