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高加速应力试验（HALT & HASS）
高加速应力试验（HALT & HASS）
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摘要：
阐述了高加速应力试验的本质是通过施加远超过产品设计规范规定的各种应力，快速地将产品内部的薄弱环节和缺陷激发出来，为改进设计和剔除早期故障提供信息。高加速应力试验的优点是可以得到高可靠的产品，且大大缩短产品研制进度和降低成本。这里列举了部分在IT、电子、机电等设备上成功应用HALT&HASS取得效果的国际企业。
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可靠性试验
高加速寿命试验和高加速应力筛选技术综述
高加速寿命试验
高加速应力筛选试验
试验设备
校准
HALT与HASS技术原理概述
高加速寿命试验
高加速应力筛选
故障模式
内容分析
关键词云
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
高加速寿命试验
高加速应力筛选
高可靠性
HALT/HASS
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
总下载数（次）
96
总被引数（次）
46655
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