基于偏最小二乘法的纸张抗张强度预测模型

• 作者: 刘焕彬 李继庚 李远华 陶劲松
• 来源期刊: 化工学报
• 关键词: 化学过程 纸张抗张强度 产品工程 偏最小二乘法 预测
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 过程系统工程
• 页码范围: 3544-3551
• 页数: 8页
• 分类号: TS75
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0438-1157.2014.09.032

摘要

为了解决抗张强度机理模型中参数难以测量、偏离工厂生产变量、实际指导关联性差的问题。以一瓦楞原纸生产线为研究对象，先通过经验分析筛选影响纸张抗张强度的生产过程变量，在收集对应变量的生产数据后，应用偏最小二乘法建立抗张强度预测模型并对重要影响变量进行分析。结果表明该模型具有较好精度，其皮尔逊相关系数r=0.732，均方根误差RMSE值为276 N·m-1，平均相对误差MRE值为5.17%。同时得到了影响纸张抗张强度的6个重要生产过程变量，通过机理分析和现场验证，发现结果具有较好的现实吻合度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘焕彬	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室	210	2139	22.0	37.0
2	陶劲松	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室	36	279	10.0	15.0
3	李继庚	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室	70	285	9.0	13.0
4	李远华	华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室	3	42	3.0	3.0