基于改进TRL校准算法的二极管参数测量

• 作者: 刘培国 刘晨曦 易波 李岩 杨成 王为 董雁飞
• 来源期刊: 中国舰船研究
• 学科: 交通运输
• 关键词: 去嵌入法 PIN二极管测量 TRL校准算法
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 121-124
• 页数: 4页
• 分类号: U665.2
• 字数: 2582字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3185.2015.02.023

摘要

加载二极管的频率选择表面和能量选择表面（以下统称“自激励表面”）具有自适应的防护特征，能够防护强电磁攻击。二极管本身参数的测量是自激励表面设计中重要的环节，准确测得二极管特征参数对于设计出满足需求的防护表面至关重要。介绍传统去嵌入法，针对传统去嵌入法存在校准件制作精度要求高、相位延时有范围的缺点，改进了用于二极管参数测量的去嵌入算法；测量几种不同PIN型号的二极管，通过对比PIN参数手册与测试结果，验证了测试方法的有效性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘培国	国防科学技术大学电子科学与工程学院	36	366	8.0	18.0
2	刘晨曦	国防科学技术大学电子科学与工程学院	4	33	2.0	4.0
3	董雁飞	国防科学技术大学电子科学与工程学院	4	33	2.0	4.0
4	易波	国防科学技术大学电子科学与工程学院	6	66	3.0	6.0
5	杨成	国防科学技术大学电子科学与工程学院	7	43	3.0	6.0
6	李岩		1	1	1.0	1.0