DDS 专用芯片静态参数测试方法研究磁

• 作者: 刘路扬 吕兵 张碚 张虹
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: DDS 专用芯片 数模转换器 静态参数测试
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 测试原理与技术
• 页码范围: 70-74
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2924字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.019

摘要

文章重点介绍了基于 ATE 设备的 DDS 专用芯片内嵌 DAC 静态参数的一种测试方法。由于 DDS 专用芯片的自身特点，其只能输出一定频率的正弦波，测试开发人员唯一能够控制的只有正弦波输出的频率和幅度。而正弦波电压是非线性的，所以利用线性斜波电压测试 DAC 的传统方法并不能用于 DDS 专用芯片的静态参数测试，只能依靠间接的方式测试其内嵌 DAC 的静态参数。该测试方法通过将正弦波的非线性幅值信息转换为线性的角度信息，实现了 DDS 专用芯片内嵌 DAC 的测试自动化，且测试过程高效可靠。