CMOS数字IC管脚状态评估

• 作者: 孙健 李兴鸿 赵俊萍 黄鑫
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 管脚 等效结构 管脚电压 二极管结构 浮阱结构 浮空电位
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 7-11
• 页数: 5页
• 分类号: TN432
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2015.06.002

摘要

首先,根据CMOS数字IC管脚间的等效结构,给出了无偏置时任意两管脚之间的电压;其次,探讨了地开路时的输出管脚的状态;然后,提取了电源浮空时的等效电路;最后,利用所提取的等效电路,对二极管结构电源浮空电位和浮阱结构电源浮空电位进行了计算.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李兴鸿		12	9	2.0	2.0
2	赵俊萍		11	9	2.0	2.0
3	黄鑫		4	3	1.0	1.0
4	孙健		1	2	1.0	1.0