电子产品的高加速寿命试验

• 作者: 石庆国 翁榕 范秋涛
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子产品可靠性 HALT
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 环境试验 ENVIRONMENTAL TESTING
• 页码范围: 37-39
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2127字
• 语种: 中文

摘要

电子产品的使用者希望产品在工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障。制造者为了确保电子产品的可靠性，必须针对产品作一系列的可靠性试验。介绍了HALT试验的目的、优点及发展现状，通过实际的HALT试验阐述了试验剖而设计及被试验产品工作极限的确定方法，并给出试验结论，为同类产品的可靠性设计提供了依据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石庆国		6	26	4.0	5.0
2	范秋涛		8	45	4.0	6.0
3	翁榕		9	26	3.0	4.0