组件级电子产品ESS试验条件剪裁方法研究

• 作者: 李楼德 贝广常 黄泽贵
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 环境应力筛选 国军标 筛选度 电子组件 剪裁方法
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境试验技术及评价
• 页码范围: 14-18
• 页数: 5页
• 分类号: TB24|T-652.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2015.02.003

摘要

针对组件级电子产品按照GJB1032要求实施ESS试验过程中出现的效率低、时间长等问题,探索了一种基于GJB1032的ESS试验条件剪裁方法,并基于筛选度模型从理论上证明了该方法的可行性.最后,针对某型号中的变频组件,运用所提出的方法制定了温度循环筛选试验条件.、通过与GJB 1032中的对应条件对比,所提出的剪裁方法在不影响筛选效果的前提下,可以大大缩短试验时间,提高试验效率,节省人力资源和试验成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄泽贵	中国人民解放军驻中国电子科技集团公司第二十九研究所军事代表室	4	30	2.0	4.0
2	贝广常		1	1	1.0	1.0
3	李楼德	中国电子科技集团公司第二十九研究所	1	1	1.0	1.0