功耗约束下的3D-SICs测试调度优化算法

• 作者: 刘辉 李浪 焦铬 邹祎
• 来源期刊: 仪表技术与传感器
• 学科: 工学
• 关键词: 功耗约束 三维堆叠集成电路 测试调度
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 页码范围: 91-93
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.7
• 字数: 2059字
• 语种: 中文

摘要

提出了一种功耗约束下的三维堆叠集成电路（3D－SICs）测试调度优化算法。该算法在功耗约束下，协同优化了测试应用时间、TAM总线带宽和测试硬件开销。通过采用ITC’02标准电路中的d695和p93791做应用验证，结果表明该算法将测试应用时间分别减少为91.25％和93.11％，证明算法能有效地减少测试应用时间，降低测试成本。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李浪	衡阳师范学院计算机科学系	110	370	11.0	14.0
2	焦铬	衡阳师范学院计算机科学系	60	178	7.0	10.0
4	刘辉	衡阳师范学院计算机科学系	51	165	6.0	10.0
5	邹祎	衡阳师范学院计算机科学系	37	66	4.0	6.0