中子单粒子效应研究现状及进展

• 作者: 刘岩 杨善潮 林东生 王桂珍 白小燕 郭晓强 金晓明 陈伟 齐超
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 中子辐照效应 中子单粒子效应 随机静态存储器 低能中子
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 4-10
• 页数: 7页
• 分类号: TN322|TN43
• 字数: 5341字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201527.110201

摘要

回顾了中子单粒子研究的国内外发展情况,介绍了近几年西北核技术研究所在西安脉冲堆开展的低能中子单粒子效应研究进展.比较了稳态与脉冲工况下中子单粒子效应的异同性;分析了含有SRAM结构器件随着特征尺寸的减小,中子单粒子效应敏感性加剧的物理机制.分析认为目前中子单粒子效应已成为小尺寸大规模互补金属氧化物半导体器件的主要中子效应表现;中子辐射效应研究中,除了位移损伤效应以外还必需重视由中子电离造成的中子单粒子效应.