关于中子辐射的单粒子翻转效应测试与加固研究

• 作者: 孟令军 张敏
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 航空航天
• 关键词: 单粒子效应 地面辐射实验 实验平台 加固技术
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 页码范围: 1367-1370
• 页数: 4页
• 分类号: V11
• 字数: 2724字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2019.06.004

摘要

针对高能粒子入射半导体材料引发的辐射效应,从实验平台的设计对地面辐射试验进行了研究.通过对单粒子翻转效应的分析,制定评估方式.实验平台通过建立数据采集系统、数据分析系统,测试4种SRAM型的FPGA芯片在不同强度的中子辐照产生的影响.通过辐照试验,验证了试验方法、试验系统的有效性和可靠性.实验结果表明,在高强度的辐照下,单粒子翻转效应显著增多,需要采取防护措施及时修正,对FPGA芯片的使用及选型具有参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟令军	中北大学电子测试技术国防科技重点实验室	74	438	11.0	17.0
2	张敏	中北大学电子测试技术国防科技重点实验室	21	101	4.0	10.0