电子元器件散粒噪声特性及测试方法

• 作者: 杨恒 高景旭
• 来源期刊: 通讯世界
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 散粒噪声 特性 测试方法
• 年，卷（期）: 2015,（11）
• 所属期刊栏目: 论述
• 页码范围: 236-236
• 页数: 1页
• 分类号: TN606
• 字数: 1578字
• 语种: 中文

摘要

在高科技技术不断发展的今天，电子元件方面的研究变得越来越深入，并且，部分研究表明电子元件的散粒噪声与器件内部有着紧密联系，必须不断提高器件的可靠性，才能真正降低电子元件的散粒噪声情况，最终满足电子元件的实际运行需求。本文就电子元器件散粒噪声特性进行全面分析，提出电子元器件散粒噪声的测试方法，以对电子元器件散粒噪声有更全面的了解，从而为电子元件的实际应用提供可参考依据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨恒		3	7	2.0	2.0
2	高景旭		2	6	2.0	2.0