紫外辐照对聚醚酰亚胺薄膜介电性能的影响

• 作者: 付红梅 刘文元 李琳 柯昌凤 段荔 程敏 郭平稳
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 聚醚酰亚胺 紫外辐照 介电常数 介电损耗 表面电阻率 直流击穿场强
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 微纳技术
• 页码范围: 064134-1-064134-5
• 页数: 1页
• 分类号: TM215.3
• 字数: 3086字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201628.064134

摘要

研究了不同紫外辐照时间对聚醚酰亚胺（PEI）薄膜介电性能的影响。采用 FT-IR 和 SEM 表征了 PEI 薄膜的分子结构和微观形貌。结果表明，紫外辐照后 PEI 薄膜在1742 cm-1处的吸收峰比原薄膜增大，说明 PEI 分子链中的 C=O 基团随辐照时间的增加而增加，并在薄膜表面产生了微裂纹。对 PEI 薄膜的介电性能进行的研究结果表明，随着紫外辐照时间的增加，PEI 薄膜的介电常数和介电损耗增大，而表面电阻率下降，体积电阻率基本不变。并随紫外辐照时间的增加，直流击穿强度呈先增加后降低的趋势，一定辐照剂量可使薄膜发生交联反应，使击穿场强较原薄膜提高20％以上。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李琳		8	36	3.0	6.0
2	刘文元		27	384	12.0	19.0
3	程敏	湘潭大学材料科学与工程学院	1	1	1.0	1.0
4	柯昌凤		14	29	3.0	5.0
5	段荔		9	23	2.0	4.0
6	付红梅	西北工业大学应用化学系	9	17	3.0	4.0
7	郭平稳		4	10	2.0	3.0