聚酰亚胺/纳米氧化钛复合薄膜的介电性能研究

• 作者: 刘斌 李鸿岩 郭磊 陈寿田 陈维
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 聚酰亚胺薄膜 纳米二氧化钛 复合材料 介电性能 耐电晕
• 年，卷（期）: 2005,（6）
• 所属期刊栏目: 性能研究
• 页码范围: 30-33
• 页数: 4页
• 分类号: TM215.92|TQ323.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2005.06.008

摘要

采用原位分散聚合法制备了聚酰亚胺 /纳米 TiO2复合材料.通过透射电镜研究了纳米 TiO2粒子在聚酰亚胺基体中的分散状态,并在此基础上研究了纳米 TiO2填加量对该复合材料介电性能的影响.结果表明,随着纳米 TiO2含量的增加,聚酰亚胺 /纳米 TiO2复合材料的体积电阻率和电气强度出现不同程度的劣化,并造成了介电常数和介质损耗因数的增加,但是材料的耐电晕性能显著增强,在 12MV/m的电场强度下,纳米 TiO2含量 15%的 PI薄膜的耐电晕寿命为纯 PI薄膜的 40多倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈维	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	50	715	14.0	24.0
2	刘斌	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	82	1223	22.0	31.0
3	陈寿田	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	95	1522	23.0	33.0
4	李鸿岩	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	12	363	9.0	12.0
5	郭磊	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	20	354	10.0	18.0