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摘要:
通过采用不同的腐蚀液对磷化铟晶片进行腐蚀,使磷化铟晶片的各种缺陷能够清晰的显示并加以区别。在位错密度的测试过程中,综合了位错密度的计数方法,较真实地反映了磷化铟单晶片的位错状况。
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文献信息
篇名 磷化铟晶体缺陷的检测
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 磷化铟 腐蚀液 位错
年,卷(期) 2016,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 29-31
页数 3页 分类号 TN304.2
字数 1605字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 佟丽英 中国电子科技集团公司第四十六研究所 19 22 3.0 3.0
2 刘伟伟 中国电子科技集团公司第四十六研究所 3 3 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
磷化铟
腐蚀液
位错
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
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3731
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