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Area-efficient transient power-rail electrostatic discharge clamp circuit with mis-triggering immunity in a 65-nm CMOS process
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摘要：
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恒定跨导Rail-to-Rail CMOS运放设计
Rail-to-Rail
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rail-to-rail
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恒定跨导
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文献信息
| 篇名 | Area-efficient transient power-rail electrostatic discharge clamp circuit with mis-triggering immunity in a 65-nm CMOS process | ||
| 来源期刊 | 中国科学 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | CMOS工艺 箝位电路 静电放电 电源转换 误触发 纳米 瞬态 免疫力 | ||
| 年，卷（期） | zgkx_2016,（4） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 108-116 | |
| 页数 | 9页 | 分类号 | TN929.11 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | |||
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CMOS工艺 箝位电路 静电放电 电源转换 误触发 纳米 瞬态 免疫力
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