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摘要:
提出一种适用于反型层RF SOI MOS变容管行为表征模型.在BSIMSOI的基础上,模型采用简化的衬底模型和外围射频寄生模型来表征变容管的射频寄生效应,同时采用T、π互转的方式提出参数提取算法.模型最终应用到华虹宏力SOI工艺提供的不同栅指,每栅指长度为1.6μm、宽度为5μm的MOS变容管器件,并且在15 GHz以下,模型与测量数据的CV、QV以及S参数有较好的拟合.在高频情况下,模型既保证了精度又解决了参数提取困难等问题.
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文献信息
篇名 一种简化衬底模型的SOI MOS变容管模型
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 SOIMOS变容管 简化衬底模型 数据拟合 参数提取算法
年,卷(期) 2016,(6) 所属期刊栏目 固态电子器件及材料
研究方向 页码范围 1297-1301
页数 5页 分类号 TN386.1
字数 2958字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2016.06.004
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研究主题发展历程
节点文献
SOIMOS变容管
简化衬底模型
数据拟合
参数提取算法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
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27643
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