高速信号系统性研究——铜厚、线宽、铜箔粗糙度的影响

• 作者: 李民善
• 来源期刊: 印制电路信息
• 学科: 工学
• 关键词: 高速信号 损耗 粗糙度
• 年，卷（期）: 2016,（z2）
• 所属期刊栏目: 印制电路设计
• 页码范围: 38-47
• 页数: 10页
• 分类号: TN41
• 字数: 5083字
• 语种: 中文

摘要

研究了铜箔粗糙度及其对高速信号损耗的影响,基于现有设备、药水体系、材料和大数据收集与分析,初步确定了粗糙废控制窗口.研究了铜厚、线宽、铜箔粗糙度对于高速信号损耗的影响,并对其影响程废进行了排序,为后续高速信号深入研究指明重点方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李民善		1	0	0.0	0.0