原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
研究了剔除大扇入逻辑门对于高电源电压下的电路指标的影响,证实这一方法对电路在高电压下的性能和功耗没有明显的负面影响,主要影响是在一定程度上增大电路的面积.分别对32 nm标准单元库中的异步置位复位D触发器单元和电平移位器单元进行了电路优化,使得它们在低电压下的延时分别减少了14.6%和19.9%,解决了电源电压降至近阈值时性能恶化过于严重的问题.
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文献信息
篇名 高能效宽电压工作标准单元库分析与优化
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 能量效率 近阈值 宽电压工作 大扇入逻辑门 D触发器 电平移位器
年,卷(期) 2016,(8) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 72-75
页数 4页 分类号 TN4
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李翔宇 清华大学微电子学研究所 41 87 5.0 8.0
2 王京睿 清华大学微电子学研究所 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
能量效率
近阈值
宽电压工作
大扇入逻辑门
D触发器
电平移位器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
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59060
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