温度试验对电子元器件的性能影响分析

• 作者: 周雄兵
• 来源期刊: 信息通信
• 学科: 航空航天
• 关键词: 温度试验 电子元器件 性能 影响 措施
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 页码范围: 257-257,258
• 页数: 2页
• 分类号: V246
• 字数: 2430字
• 语种: 中文

摘要

自改革开放以来，我国的市场经济得到了很大的发展，人们的生活水平也不断地提高，大量的电器设备、智能设备广泛地出现在人们的日常生活当中，随着经济水平的不断提高，人们对电器的要求也越来越高，电子元器件作为电器最主要的组成部分，对电器质量、性能上的要求就是对电子元器件质量、性能的要求。那么该如何检测电子元器件的性能和质量呢？目前我国所采用的是温度试验来对电器的电子元器件进行检验。但是电子元器件在进行温度试验也是会受到温度的影响导致电子元器件的性能受到影响。文章通过分析温度试验的概念以及温度对电子元器件的危害进行分析，并提出了相关的解决措施。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周雄兵		1	5	1.0	1.0