低压差线性稳压器瞬时电离辐射试验方法

• 作者: 刘娜 刘智 姚和平 时应璇 杨力宏 赵光炜
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 低压差线性稳压器 瞬时电离辐射效应 恢复时间
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 微电子、微系统与物理电子学
• 页码范围: 129-133
• 页数: 5页
• 分类号: TN433
• 字数: 2068字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201701.0129

摘要

在核爆环境下,要求低压差线性稳压器(LDO)的输出电压能够快速恢复.本文定性分析了瞬时电离辐射后LDO的输出电压恢复时间与负载电阻的关系;在“强光一号”加速器上开展了相应的瞬时电离辐射效应试验研究.对比分析不同负载条件下的输出电压恢复时间,发现两者密切相关,通过合理调整输出负载电阻值,可以有效地减小瞬时电离辐射后电路的恢复时间.辐射试验结果表明,经过瞬时电离剂量率为1.0×1011rad(Si)/s辐照后,采用适当负载的LDO的输出电压恢复时间可小于100 μs.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘智	西安微电子技术研究所集成电路设计事业部	13	42	3.0	6.0
2	杨力宏	西安微电子技术研究所集成电路设计事业部	5	5	1.0	2.0
3	姚和平	西安微电子技术研究所集成电路设计事业部	4	1	1.0	1.0
4	时应璇	西安微电子技术研究所集成电路设计事业部	3	0	0.0	0.0
5	赵光炜	西安微电子技术研究所集成电路设计事业部	2	0	0.0	0.0
6	刘娜	西安微电子技术研究所集成电路设计事业部	1	0	0.0	0.0