修正飞针测试系统测试点坐标的解决方法

• 作者: 左宁 高慧莹
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 飞针测试系统 坐标修正 平移偏距 旋转角度
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 测试测量技术与设备
• 页码范围: 36-40,45
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 字数: 1641字
• 语种: 中文

摘要

飞针测试系统是用来测量混合电路板、LTC C基板、PC B板的各网络间开路、短路、绝缘以及电容的专业电子芯片检测设备.针对飞针测试系统中测试坐标点的修正提出了一种解决方法,不仅能准确得出对待测基片的平移偏距,也能够通过算法计算出待测基片的旋转角度,综合考虑平移和旋转这两点的因素最终确定待测点的实际位置坐标.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高慧莹	中国电子科技集团公司第四十五研究所	7	58	3.0	7.0
2	左宁	中国电子科技集团公司第四十五研究所	5	4	1.0	1.0