基于自注入耦合技术的超低相位噪声QVCO

• 作者: 何如龙 戚玉华
• 来源期刊: 雷达科学与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 相位噪声 自注入耦合 正交压控振荡器 振幅误差 相位误差
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 页码范围: 198-202
• 页数: 5页
• 分类号: TN432
• 字数: 2615字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2337.2017.02.015

摘要

基于标准0.18 μm CMOS工艺,提出并验证了一种改进的用于多相位振荡器的耦合方法.将一种先进的自注入耦合(SIC)技术,用于耦合两个电流复用差分压控振荡器(VCO).相比较于传统的并联耦合正交VCO(QVCO)而言,所提出的采用SIC技术的QVCO在没有增加功耗的前提下,表现出了更低的相位噪声.所提出的SIC-QVCO在16.41 GHz振荡频率下,相位噪声为-119.7 dBc/Hz@1 MHz,并且调谐范围高达1.66 GHz,直流电源电压和电流分别为1.8V和5.28 mA,芯片尺寸为0.3 mm×0.9 mm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何如龙	海军工程大学电子工程学院	26	123	6.0	10.0
2	戚玉华	海军工程大学电子工程学院	10	26	3.0	5.0