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硅片兆声清洗技术的优化设计
硅片兆声清洗技术的优化设计
作者:
阎占全
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
集成电路
IC硅片
湿法
兆声清洗
优化
摘要:
介绍硅片表面兆声清洗技术的原理,研究硅片湿法清洗的原理,分析硅片兆声清洗的方法及流程图,比较了这些方法各自的特性,根据课题要求,基于兆声清洗的工艺流程,优化出适合于IC硅片的湿法清洗技术.
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文献信息
篇名
硅片兆声清洗技术的优化设计
来源期刊
清洗世界
学科
工学
关键词
集成电路
IC硅片
湿法
兆声清洗
优化
年,卷(期)
2017,(10)
所属期刊栏目
新技术、新工艺
研究方向
页码范围
31-36
页数
6页
分类号
TN305.97
字数
5896字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1671-8909.2017.10.008
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
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阎占全
2
1
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
IC硅片
湿法
兆声清洗
优化
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
清洗世界
主办单位:
中国化工信息中心
出版周期:
月刊
ISSN:
1671-8909
CN:
11-4834/TQ
开本:
大16开
出版地:
北京空港工业B区安祥路5号
邮发代号:
2-640
创刊时间:
1985
语种:
chi
出版文献量(篇)
4408
总下载数(次)
7
总被引数(次)
7347
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