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摘要:
随着集成电路尺寸缩小和低电压技术的发展,集成电路会出现在工艺、电压、温度及老化等方面的变化(Variation),会使得当前集成电路的时序发生变化,经过各级寄存器的逐渐累积后使得电路发生时序错误(Timing Error),当前时序错误检测与纠正技术正得到越来越多的研究.文中基于SMIC 65nm工艺,针对当下最新的iRazor结构,完成全定制只需要额外增加三个晶体管的iRazor FF结构的硬件实现并完成时序错误纠正电路的改进和优化设计.在此基础上,设计一款FIR数字滤波器作为验证电路,使EDAC技术应用于该验证电路,仿真结果显示在0.6V工作电压、12.5MHz工作频率下能够实现时序错误检测与纠正.
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文献信息
篇名 基于iRazor时序错误检测与纠正电路改进与应用
来源期刊 信息技术 学科 工学
关键词 时序错误 检测与纠正 FIR滤波器
年,卷(期) 2017,(10) 所属期刊栏目 应用技术
研究方向 页码范围 74-77,83
页数 5页 分类号 TN407
字数 4505字 语种 中文
DOI 10.13274/j.cnki.hdzj.2017.10.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 毛志刚 上海交通大学微纳电子学系 82 249 9.0 12.0
2 何卫锋 上海交通大学微纳电子学系 35 100 4.0 9.0
3 金威 上海交通大学微纳电子学系 4 3 1.0 1.0
4 赵学军 上海交通大学微纳电子学系 1 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
时序错误
检测与纠正
FIR滤波器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息技术
月刊
1009-2552
23-1557/TN
大16开
哈尔滨市南岗区黄河路122号
14-36
1977
chi
出版文献量(篇)
11355
总下载数(次)
31
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