SMD晶振失效模式分析

• 作者: 王芳云
• 来源期刊: 数字化用户
• 关键词: SMD晶振 失效模式 分析
• 年，卷（期）: 2017,（21）
• 所属期刊栏目: 工程技术
• 页码范围: 78,80
• 页数: 2页
• 字数: 1124字
• 语种: 中文

摘要

晶振是电路中常用的时钟元件,其作用是产生原始的时钟频率.SMD晶振广泛应用于各种电子产品中.随着电子产品的普及、快速更替和人们对电子设备精度要求越高越能适应更极端恶略的条件,对晶振的快速批量生产和可靠性也提出了更高的要求.尤其是目前汽车、军品领域,一旦晶振失效不仅会造成较大的经济损失,也会对人身安全造成威胁.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王芳云		1	1	1.0	1.0