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文献信息
篇名 智能检测提高电子元器件质量
来源期刊 软件和集成电路 学科
关键词
年,卷(期) 2017,(10) 所属期刊栏目 视野
研究方向 页码范围 12-13
页数 2页 分类号
字数 2086字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.2096-062X.2017.10.003
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
软件和集成电路
月刊
2096-062X
10-1339/TN
大16开
北京市海淀区紫竹院路66号赛迪大厦8层
82-469
1984
chi
出版文献量(篇)
2012
总下载数(次)
4
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