基于壳温的IGBT模块键合引线疲劳寿命预测

• 作者: 吴馨 朱戈 赵旭州
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: 电—热—结构强耦合模型 键合引线 塑性应变 壳温 疲劳寿命
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 167-173
• 页数: 7页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2017.07.027

摘要

为了研究功率循环下键合引线的疲劳寿命,提高IGBT模块的可靠性,文中提出了一种基于壳温的键合引线寿命预测方法.首先对IGBT模块进行功率循环测试,探究了键合引线的疲劳失效机理;然后建立IGBT模块的电—热—结构强耦合模型,分析了模块在功率循环载荷下的电、热、结构特性.依据键合引线的应变情况和实验测得的疲劳曲线,评估键合引线的疲劳寿命,并在壳温基础上建立了其寿命预测模型,对比测试结果验证了该模型的准确性;最后提出了铜键合引线的改进方案.根据易测量的壳温来确定键合引线的使用寿命,提前更换器件,能降低IGBT模块的故障率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵旭州		4	16	1.0	4.0
2	吴馨	国网安徽省电力公司马鞍山供电公司	2	0	0.0	0.0
3	朱戈		1	0	0.0	0.0