电触头闭合过程中熔焊现象研究

• 作者: 宗天元 朱青成 李震彪 柳子逊 魏江 黄靖
• 来源期刊: 电器与能效管理技术
• 学科: 工学
• 关键词: 触头 熔焊 弹跳 随机性
• 年，卷（期）: 2017,（14）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 9-12,16
• 页数: 5页
• 分类号: TM503+.5
• 字数: 3069字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2017.14.002

摘要

触头熔焊既可以发生在接通过程,亦可以发生在分断过程.采用触头模拟装置进行触头的电寿命试验,阐明接通过程中的熔焊现象是发生在触头弹跳分离瞬间,还是闭合瞬间,以及闭合弹跳次数及时间对熔焊发生概率的影响.经分析,得出熔焊发生具有随机性.