一种用于逻辑分析仪的FPGA测试接口电路

• 作者: 吴忠秉 姚世朋 文常保 李演明 李阳 王澄宇 雪程飞
• 来源期刊: 实验室研究与探索
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列 逻辑分析仪 测试接口电路
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TH89|TN98|TP334
• 字数: 3415字
• 语种: 中文

摘要

针对目前利用逻辑分析仪对FPGA进行测试时,各待测信号之间出现干扰现象及利用差分方式测量时浪费FPGA的I/O引脚资源的问题,提出了一种用于逻辑分析仪的FPGA测试接口电路实现方案.该方案由信号输入接口模块、单端信号转差分信号模块和信号输出接口模块组成.信号输入接口模块完成FPGA和测试接口电路之间的信号传输工作,单端信号转差分信号模块把单端信号转换成差分信号,信号输出接口模块将转换完成后的信号输出给逻辑分析仪.通过一个具体的FPGA信号测试实验表明,在采样深度分别为1、8、32 KB时,使用测试接口电路比没有使用时的测量相对误差分别减少了87.3％、90.2％、88.6％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李演明	长安大学电子与控制工程学院微纳电子研究所	19	107	6.0	9.0
2	文常保	长安大学电子与控制工程学院微纳电子研究所	39	191	7.0	12.0
3	李阳	长安大学电子与控制工程学院微纳电子研究所	17	56	5.0	6.0
4	吴忠秉	长安大学电子与控制工程学院微纳电子研究所	1	2	1.0	1.0
5	雪程飞	长安大学电子与控制工程学院微纳电子研究所	1	2	1.0	1.0
6	姚世朋	长安大学电子与控制工程学院微纳电子研究所	3	11	2.0	3.0
7	王澄宇	长安大学电子与控制工程学院微纳电子研究所	2	6	2.0	2.0