可靠性试验在电子产品质量保证中的应用分析

• 作者: 黄玉华
• 来源期刊: 电脑迷
• 关键词: 可靠性试验 热膨胀效应 线圈热补偿 外界磁场
• 年，卷（期）: 2017,（18）
• 所属期刊栏目: 安全技术
• 页码范围: 62
• 页数: 1页
• 字数: 2147字
• 语种: 中文

摘要

电子产品在规定的时间和条件内能否完成规定功能的能力被称为电子产品的可靠性.对于电子产品的可靠性研究可以通过可靠性实验的方式来进行测评.本文通过目前常见的可靠性试验,对电子线圈产品在可靠性实验当中的具体实验过程进行论述,并藉由这一过程来详细叙述目前电子产品为了保证质量所应该进行的可靠性实验的具体步骤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄玉华		1	2	1.0	1.0