基于近场场图的带罩天线近副瓣畸变分析

• 作者: 刘谊 范雪平
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: FEKO 近场场图 带罩天线 近副瓣 畸变
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 27-32
• 页数: 6页
• 分类号: O441
• 字数: 3672字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13443/j.cjors.2017090701

摘要

采用FEKO软件仿真带罩天线远场方向图和近场场图,采用近场场图分析远场方向图近副瓣畸变的原因.仿真过程中采用等效源技术,兼顾仿真精度和仿真效率.带罩天线方向图近副瓣畸变主要是由天线罩尖部区造成的,近场场图表明三种效应导致近副瓣抬升:其一,电磁波经过天线罩尖部发生明显的衍射,波阵面分叉;其二,金属雨蚀头被激励出表面电流,进而产生二次辐射;其三,部分电磁波能量经反射后透过天线罩尖部区域,反射-透射电磁波能量叠加在副瓣方向上.针对上述效应,对天线罩改进设计,改进后可明显抑制带罩天线近副瓣的抬升.近场场图分析方法揭示了天线罩局部细节和远场方向图之间的联系,对天线罩电性能优化设计有很好的指导作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘谊		6	21	2.0	4.0
2	范雪平		2	4	1.0	2.0