基于自适应局部增强的手机TFT-LCD屏Mura缺陷自动检测

• 作者: 余建勇 刘毅志 廖苗 彭理 欧阳军林 肖文辉
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD屏 Mura 图像增强 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 475-482
• 页数: 8页
• 分类号: TP391
• 字数: 3024字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20183306.0475

摘要

针对手机屏幕图像整体亮度不均以及Mura缺陷对比度低等特点,提出一种基于自适应局部增强的Mura缺陷自动在线检测方法.首先对CCD相机采集的手机屏幕原始图像进行感兴趣区域提取、几何校正、滤波等预处理,获取图像中的屏幕区域,然后将屏幕区域划分为多个不重叠的像素块,并根据每个像素块的灰度分布特征,采用自适应局部增强算法自动识别并定位图像中的Mura区域,最后考虑到Mura缺陷大小的不确定,提出采用多层级分块的方式对屏幕区域进行检测,提高算法鲁棒性.实验结果表明,相较现有多种屏幕缺陷自动检测算法,本文方法能更准确有效地识别手机屏幕中的Mura缺陷,且覆盖率和误检率分别为91.17％和5.84％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘毅志	湖南科技大学计算机科学与工程学院	12	93	4.0	9.0
2	彭理	湖南科技大学计算机科学与工程学院	12	40	4.0	6.0
3	廖苗	湖南科技大学计算机科学与工程学院	5	3	1.0	1.0
4	欧阳军林	湖南科技大学计算机科学与工程学院	8	21	3.0	4.0
5	余建勇	湖南科技大学计算机科学与工程学院	2	3	1.0	1.0
6	肖文辉	湖南科技大学计算机科学与工程学院	4	6	2.0	2.0