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摘要:
采用磁控溅射方法制备了镓镁锌氧化物(GaMgZnO)透明导电薄膜,通过X射线衍射仪、四探针仪和分光光度计的测试分析,研究了沉积温度对GaMgZnO薄膜微观结构和电光性能的影响.结果显示:所制备的样品均为六角纤锌矿结构的多晶薄膜并具有c轴择优取向生长特点,其结晶质量和电光性能与沉积温度密切相关.当沉积温度为550 K时,GaMgZnO薄膜的晶粒尺寸最大(51.72 nm)、晶格应变最小(1.11′10-3)、位错密度(3.73×1014 line×m-2)、电阻率最低(1.63×10-3 W?cm)、可见光区平均透过率(82.41%)、品质因数最大(5.06×102 W-1?cm-1),具有最好的结晶质量和光电综合性能.另外采用光学表征方法获得了薄膜样品的光学能隙,结果表明由于受Burstein-Moss效应的影响,GaMgZnO薄膜的光学能隙均大于未掺杂ZnO的数值.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 镓镁锌氧化物透明导电薄膜的制备及其表征
来源期刊 中南民族大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 磁控溅射 掺杂氧化锌 透明导电薄膜
年,卷(期) 2018,(4) 所属期刊栏目 物理与电子信息科学
研究方向 页码范围 88-94
页数 7页 分类号 TM914
字数 849字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-4321.2018.04.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 顾锦华 中南民族大学实验教学与实验室管理中心 33 183 9.0 12.0
2 陆轴 中南民族大学电子信息工程学院 19 78 6.0 8.0
3 康淮 中南民族大学电子信息工程学院 11 61 6.0 7.0
4 朱雅 中南民族大学电子信息工程学院 7 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
磁控溅射
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透明导电薄膜
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中南民族大学学报(自然科学版)
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1982
chi
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