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摘要:
如何提高子孔径拼接干涉测量精度是子孔径拼接系统的关键问题.针对一维平面子孔径拼接系统,分别采用两两拼接算法和误差均化拼接算法,进行拼接位移台定位误差、参考面面形误差和随机噪声对拼接精度影响的数值仿真与分析.仿真结果表明,对于平面拼接系统,参考面高阶误差、随机噪声对拼接精度影响较小,高阶误差的影响略大于随机噪声的影响;参考面低阶误差(二阶项误差)在拼接过程中会累积放大,是平面拼接干涉测量的主要误差来源,误差均化拼接算法不能有效控制参考面低阶误差的拼接累积误差;两两拼接算法与误差均化拼接算法得到基本相同的拼接结果.对450 mmX60 mm的平面镜进行了15个子孔径的拼接测量,去除参考面低阶误差面形前后,拼接结果与大口径干涉仪的测量结果偏差从λ/3[峰谷值(PV),λ =632.8 nm]减小至λ/45(PV).
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文献信息
篇名 平面子孔径拼接干涉测量精度分析
来源期刊 中国激光 学科 物理学
关键词 测量 平面子孔径拼接 拼接精度 拼接算法 累积误差
年,卷(期) 2018,(4) 所属期刊栏目 测量与计量
研究方向 页码范围 200-209
页数 10页 分类号 O436.1
字数 语种 中文
DOI 10.3788/CJL201845.0404002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王向朝 中国科学院上海光学精密机械研究所 170 1628 23.0 35.0
2 唐锋 中国科学院上海光学精密机械研究所 19 47 4.0 6.0
3 卢云君 中国科学院上海光学精密机械研究所 11 51 3.0 7.0
4 郭福东 中国科学院上海光学精密机械研究所 6 4 1.0 2.0
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