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摘要:
随着纳米材料科学的发展,材料的晶粒尺寸是科研工作者在研发过程中十分重要的数据.Topas和Eva是两种常用的X-射线衍射数据分析软件,都可以进行晶粒尺寸的计算.选取6种具有代表性的高级晶族和中级晶族纳米材料,通过X-射线衍射仪测试获得衍射谱,分别应用两种软件对6种材料晶粒尺寸进行计算,发现其结果存在一定差异.为了说明计算结果存在差异的原因,本文详细介绍了两种软件计算晶粒尺寸的方法和步骤,并通过比较说明由于两种软件计算方法不同是产生计算结果差异的直接原因,这对于材料科学工作者在进行相关计算时提供了较好的借鉴以及理论依据.
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文献信息
篇名 应用Topas和Eva软件计算纳米材料晶粒尺寸的数值观察
来源期刊 人工晶体学报 学科 其他
关键词 晶粒尺寸 Topas Eva Rietveld拟合 洛仑兹函数 谢乐公式
年,卷(期) 2018,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 879-884
页数 6页 分类号 O822+.4
字数 2799字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-985X.2018.04.035
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邓平晔 北京市理化分析测试中心北京市科学技术研究院分析测试技术重点实验室 13 51 4.0 6.0
2 黎爽 北京市理化分析测试中心北京市科学技术研究院分析测试技术重点实验室 7 28 3.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
晶粒尺寸
Topas
Eva
Rietveld拟合
洛仑兹函数
谢乐公式
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
出版文献量(篇)
7423
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16
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38029
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